JH-I-5薄膜热物性测试仪用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。

JH-I-5薄膜热物性测试仪主要技术参数：

1．导热系数范围：0.05～20w/m·k

2．仪器实现数字化测温，精度优于0.2级。

3．测量结果，准确度 ±3%

4．计量加热功率可调节±1%。

5.试样尺寸要求：圆柱体￠15--30*5--30mm .

6.温度和保护气氛按用户要求定制。

7.配接计算机实现全自动测试分析。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途