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椭偏仪
德国Sentech范光谱椭偏仪
德国Sentech拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪SENresearch 4.0新的SENresearch 4.0设计用于光谱椭偏仪,在宽的光谱范围从190nm(深紫......
德国Sentch
低成本高效益的光谱椭偏仪SENproSENpro椭偏仪是椭偏仪应用的智能解决方案。它具有角度计,入射角度步进值5°。操作简单,快速测量和直观的数据分析相结合,以......
德国Sentech红外光谱椭偏仪SENDIRA
SENDIRA红外光谱椭偏仪,振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR。测量红外分子振动模的吸收谱带,分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导......
Sentech
SENDURO 全自动光谱椭偏仪,SENDURO 全自动光谱椭偏仪包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作:放置样品,自......
Sentech光谱椭偏测量/分析软件SpectraRay/4
SpectraRay/4:光谱椭偏测量/分析软件SENDURO®全自动光谱椭偏仪包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作......
Sentech
激光椭偏仪 SE 400adv激光椭偏仪SE 400adv测量透明薄膜的厚度和折射率指数,具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。多角度测量允许使用......
Sentech激光椭偏仪SE
激光椭偏仪SE 500adv,结合椭偏反射CER的SE 500adv 椭偏仪SE 500adv将激光椭偏仪和反射仪结合在一个系统中。这种组合允许零度反......
德国Sentech反射膜厚仪RM
反射膜厚仪RM 1000和RM 2000反射膜厚仪RM 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近红外光谱范围。光学布局为光吞吐量优化,以便即使在粗......
德国Sentech台式薄膜探针反射仪
台式薄膜探针反射仪 FTPadvFTPadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案,它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量,其精度低于0.3nm......
德国Sentech光谱反射测量软件FTPadv
FTPadv Expert 综合薄膜测量软件 光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料......
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