发射光谱测量系统卓立汉光

针对不同辐射光源的特性，可以灵活选择测试系统。
例如，宽带光源和LED通常对分辨率要求不高，建议使用SGM100或短焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/单色仪。
对于激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等对分辨率要求高的测试，建议使用长焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/单色仪。
对于宽波长范围（UV～IR）的测试，建议采用双出口单色仪接两个探测器。
而需要测试宽光谱范围的发光体，则需要采用SD滤光片轮消多级光谱。
发光体的光谱及发光特性的测试，如白炽灯、荧光灯、LED等，对研究其特性有很大帮助。
测量系统不仅可以测量光源或其他发射光谱分布，而且可以在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。
发射光谱测量系统组成包括分光系统、检测系统、数据采集及处理系统、软件系统、计算机系统OmniES-扫描型发射光谱测量系统、OmniES-摄谱型发射光谱测量系统。

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