漫反射率测量系统其它通用

产品概述

漫反射是一种光线投射在粗糙表面上后向各个方向反射的现象。当一束平行的入射光线射到粗糙的表面时，表面会将光线朝着各个方向反射，因此尽管入射线互相平行，但由于各点的法线方向不同，就导致反射光线向不同的方向无规则地反射。这种反射称为"漫反射"或"漫射"。漫反射光是指从光源发出的光进入样品内部，经过多次反射、折射、散射及吸收后返回样品表面的光，漫反射光测量可用来分析与样品内部分子发生作用以后的光，携带有丰富的样品结构和组织信息。与透射光相比，透射光的强度受样品厚度及透射过程光路的不规则性影响，而漫反射(diffuse reflectance)测量则在提取样品组成和结构信息方面提供了一个直接可靠的分析手段。积分球是漫反射测量中常用附件之一。入射光进入样品后，其中部分漫反射光回到积分球内部，在积分球内经过多次漫反射后到达检测器。由于信号光从散射层面发出后，经过积分球的空间积分，因此可以克服漫反射测量中随机因素的影响，提高数据稳定性和重复性。卓立汉光的漫反射测量系统采用单色光搭配积分球，同时提供粉末样品专用夹具。系统搭配光源与探测器可覆盖紫外到近红外波段，系统采用单色光扫描测量漫反射率，各波长输出具有单色性高与杂散光低的特点，相较于复色光以光纤光谱仪的漫反射测量有更高的可靠性。测量系统还可搭配偏振器件，提供波长与偏振相关的漫反射测量。

Omni-DR300固体粉末漫反射率测量系统本系统采用宽波段波长可调单色光源和积分球整合而成，测试光为垂直光路，样品盛放装置为小型抽屉式样品盒，方便放置粉末类样品，易于替换。
- 光谱测量范围：350-2500nm
- 光谱分辨率：2nm以下
- 光谱扫描步距：0.2-100nm可连续设置
- 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm（近红外区）
- 光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内（近红外区）
- 光度测量重复性：1%
- 测试光轴与试样夹角：不大于10°
- 测试试样尺寸(典型)：Ø10(D)*3(H)(mm)

Omni-DR600平面材料漫反射率与透射率测量系统本系统结构与Omni-DR300相同，但系统测试光为由下至上8度角聚焦光路，样品盛放装置为160x160mm平台，方便放置各类平面待测物，如各类功能性布料。同时，系统整合透过率测量探测器，可测量厚度为5mm以下的各类透光材料，可将各类透光器件的漫反射率与透过率测量整合成一体。
- 光谱测量范围：350-2500nm
- 光谱分辨率：2nm以下
- 光谱扫描步距：0.2-100nm可连续设置
- 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm（近红外区）
- 光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内（近红外区）
- 光度测量重复性：1%(450nm-1800nm)
- 测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测试透过率，样品厚度必须小于5mm

DR300-WS-PTFE漫反射标准白板DR300-WS-PTFE是一款由美国海洋光学生产的漫反射标准板，采用PTFE制成，表面为朗伯表面。外壳材料为阳极氧化铝，具有防水、稳定性好的特性，在深紫外应用下也没问题。在250-1500nm波段，反射率大于98%，在250-2200nm波段，反射率大于95%。

DR300-WS-SL Spectralon标准反射白板DR300-WS-SL是Labsphere生产的一款标准漫反射白板，材料采用Spectralon。Spectralon不易沾水，在温度350°C以下都能保持稳定，而且具有耐用性好，精确，可重复性好的特点。与PTFE材料不同，DR300-WS-SL被弄脏后仍然能通过清洗、打磨后恢复原有性能。

DR300-WS-CPT不锈钢外壳标准白板DR300-WS-CPT与DR300-WSPTFE基本相同，由美国海洋光学生产，采用PTFE制成，所不同的是外壳由不锈钢制成。此外，DR300-WSCPT的表面是一个轻微的凹面，以此保证反射探头架放在上面时，与白板不直接接触。漫反射标准白板选型表：

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