植物根系分析系统

LA-S型植物根系分析仪系统用于对洗净的植物根系进行多参数快速分析
1、LA-S型植物根系分析仪系统可分析测量：
1）根总长；
2）根平均直径；
3）根总面积；
4）根总体积；
5）根尖计数；
6）分叉计数；
7）交叠计数；
8）根直径等级分布参数；
9）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数；
10）根尖段长分布；
11）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积；
12）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等；
13）可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改）；
14）大批量的全自动根系分析，可对各自动分析结果图进行编辑修正；
15）能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。精度：根长≤±1%；面积：优质图像质量时<1%，标准图像质量时≤3%；
16）匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量；
17）采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX标准格式的图像。
18）可兼做针叶面积、体积测量，以及棉纤维粗细、长度测量。
2、人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正。
3、统计效果监视：监视和修正植物对象分析的精度。
4、自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除。
5、辅助测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
6、数据导出
分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图
LA-S型植物根系分析仪系统标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪，zei大分析测量面积：反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×21.6 cm），扫描根面积30 cm×20 cm，可分辨的zei小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度（由扫描仪决定，可软件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差<±0.25%；面积测量重现性误差<±0.25%；台间测量差异<±0.25%。测量总时间：30~60秒。用户需另配计算机。
若需大幅面分析，请选配：光学分辨率1600×3200dpi、A3的Microtek Phantom 9850XL plus扫描仪。

zei新产品资料、图像、实战操作视频可从http://www.wseen.com的网站下载。

植物根系分析系统信息由杭州万深检测科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于植物根系分析系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途