MMR Hall Effect Measurement Systemcontrolled continuously variable temperature&n......
1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe,......
1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe,......