BETHEL哈德森研究所 热波分析仪 TA系列

在逐年开发小型化电子设备时、『热问题的解决』成为一个非常重要的课题。
正确掌握零件及材料的热物性,现在是必不可少的。

本设备『热波分析仪TA35/33/32/31』

◎用于新材料开发的功能确认◎用于产品开发阶段的热设计◎用于制造现场的品质管理◎用于检查缺陷,不均匀性等需要掌握一些热物性时,会广泛的运用在各式各样的工作中。

 例如：

电子零件的散热材料的评估、半导体激光的电极评估、热点发电材料的评估、硬质合金工具的镀膜评价

测量实际多种多样：

碳素纤维强化树脂（CFROP），纳米纤维素，纤维素，石墨，碳纳米管，硅胶散热片，多结晶金刚石，陶瓷，高热传导性树脂，一般树脂，玻璃，各种金属，半导体材料，碳素材料，其他

测量对象：固体材料（热扩散率）

测量范围：0.1～1000[x10-6m2s-1]

量测尺寸：最大100x100x2mm

量测尺寸：最小10x10x0.015mm

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途