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FE-300膜厚仪
产品特点
●测试范围涵盖薄膜到厚膜
●基于绝对反射率光谱分析膜厚
●结构紧凑,精度高,台式经济型
●操作简单
●非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析
适用范围
●多层膜
●非干涉膜
●超晶格结构
●光学薄膜(ARfilm、ITO)
●FPD(ITO、PI、PC、CF)
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途
大塚电子膜厚仪FE-300
大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000
大塚电子显微分光膜厚仪OPTM
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