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大塚电子显微分光膜厚仪OPTM
显微分光膜厚仪OPTM SERIESOPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法,可测量绝对反射率、多层膜厚、折射率......
大塚电子量子效率测量系统QE-2000
量子效率测量系统QE-2000产品特点:*瞬间测得绝对量子效率(绝对量子产额)*可去除激发荧光光谱*积分半球系统,实现高亮度测量(专利技术)*低杂光多频分光检出......
大塚电子粒度仪ELSZ-2000
zeta电位·粒径·分子量测量系统大塚ELSZ-2000可测量低浓度溶液~高浓度溶液的ZETA电位、粒径及分子量。粒径测量范围(0.6nm~10μm),浓度范围......
大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000
非接触式光学膜厚仪AT-5000本设备操作简单,放置样品即可测量的。一步到位。缩短检查工程,无标准曲线,精度高,分辨率高,轻松测量样品的绝对厚度。光学方式为大冢......
大塚电子椭偏仪FE-5000
FE-5000椭圆偏振光测量仪纳米级的薄膜膜厚测量·非接触非破坏实现多层膜的解析材料表面光学常数(折光率、消光系数)测量·可求得膜厚以及光学定数的波长分散(膜厚......
大塚电子膜厚仪FE-300
FE-300膜厚仪产品特点●测试范围涵盖薄膜到厚膜●基于绝对反射率光谱分析膜厚●结构紧凑,精度高,台式经济型●操作简单●非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析......
大塚电子光纤光谱仪MCPD9800
高精度光谱仪MCPD—9800MCPD-9800为瞬间多通道测光检测器MCPD系列的最高级机型,与本公司以往的机型相比,实现了宽动态范围、低杂散光功能、以及更高......
日本大塚电子zeta电位测量仪ELSZ
zeta电位·粒径·分子量测量系统大塚ELSZ-2000可测量低浓度溶液~高浓度溶液的ZETA电位、粒径及分子量。粒径测量范围(0.6nm~10μm),浓度范围......
大塚电子小角激光散射仪PP-1000
小角激光散射仪  PP-1000   PP-1000小角激光散射仪利应用了小角光激光光散射法(Small An......
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