F54-XYT-300 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XYT-300先进的光谱反射系统，可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度......
F54-XY-200 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XY-200先进的光谱反射系统，可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动......
R50电阻率测量仪 Filmetrics R50系列提供接触式四点......
HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪仪器介绍：多功能性设计，配置灵活，具备多角度测量能力，可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行......
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和......
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台......
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可......
F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。虽然价格大大低于当今绝......
自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测......
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半......
F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统 F3-sX家族利用光谱反射原理，可以测......
F10-HC薄膜厚度测量仪 极具有价格优势的先进薄膜测量系统以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提......
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行低/高......
AutoSE-一键式全自动快速椭偏仪全自动化&高集成度&可视化光斑操作简单，测试快速，为一般操作工人设计一键式全自动快速椭偏仪 Aut......
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