F60-t 薄膜厚度测量仪

自动化薄膜厚度绘图系统

依靠F60先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。在约45秒的时间就可以扫描完标准49点分布图。

为特定的测量要求设计许多特定功能，例如：自动寻找notch点、自动基准校正、封闭独立的测试平台和 已安装好软件的工业化电脑等。

可测样品膜层

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

例如：

相关应用

液晶显示器

盒厚/聚酰亚胺/ITO

生物医学

聚对二甲苯/生物膜/硝化纤维

半导体制造

光刻胶/氧化物/氮化物

光学镀膜

硬涂层/抗反射涂层/滤光片

产品优势

依靠 F60光学膜厚测量仪 先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。在约 45 秒的时间就可以扫描完标准 49 点分布图。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途