纳米力学测试仪 iMicro灵活易用的力学测试可广泛用于各种材料和应用iMicro专为压痕、硬度、划痕测试和多元化纳米级测试等纳米级力学测试设计。iMicro具......
纳米力学测试仪 iNano灵活易用的力学测试可广泛用于各种材料和应用iNano专为压痕、硬度、划痕测试和多元化纳米级测试等纳米级力学测试设计。iNano能够测试......
EST-58-450 桌上型主动式隔振台全新设计，更易使用，更卓越的隔振性能。典型应用SPM，AFM，台阶仪，光学轮廓仪，激光干涉仪，桌面型SEM，激光共聚焦显......
EST 主动式防震系统来自日本马自达集团下全资子公司 KURASHIKI ，有着超过 30年历史的已成为主动隔振系统供应商的，且在这个领......
KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供......
F54-XYT-300 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XYT-300先进的光谱反射系统，可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度......
R54电阻率测量仪 高级薄膜电阻率测绘系统Filmetrics R54是KLA薄膜电阻和导电率测绘系统的新创新。R54是代表了KLA超过......
仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层......
F54-XY-200 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XY-200先进的光谱反射系统，可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动......
概述UT-1200A平台为电子显微镜和类似的大型研究仪器提供稳定的主动隔振性能(从0.5Hz开始)。UT-1200A平台通过消除，干扰测量的破坏 性低频振动噪声......
概述 UT-1000A平台为电子显微镜和类似的大型研究仪器提供稳定......
R50电阻率测量仪 Filmetrics R50系列提供接触式四点......
HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪仪器介绍：多功能性设计，配置灵活，具备多角度测量能力，可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行......
Nanosurf Flex-ANA自动力谱成像原子力显微镜产品主要特点:高起伏样品或多个样品自动纳米机械性能分析针对不同模型来测量粘弹性、硬度、黏附力与压入深度......
Nanosurf AFSEM™真空环境用原子力显微镜产品主要特点:实时在您的真空环境中进行AFM分析方便集成在SEM中进行相关AFM分析兼容于大多数电镜而不影响......
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和......
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台......
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可......
F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。虽然价格大大低于当今绝......
自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测......
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