什么是X射线荧光镀层测厚仪？

X射线荧光（XRF）镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款高端仪器，优尼康科技有限公司提供的一款Bowman BA-100 Optics为例，来简单了解下，什么是台式X射线荧光镀层测厚仪。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界先进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

优秀的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

         ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点

         ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央

         ● 长寿命的射线管灯丝

         ● 独有的预热和ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构

         ● 显著提高X射线信号强度

         ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

         ● 小于100um直径的测量斑点

         ● 经过验证，接近的测量精度