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MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜/原子力

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参考报价: 面议 型号: MicroNano AFM-III型
品牌: 暂无 产地: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

一、仪器简介:

这是一款适合教学与科研兼顾的SPM仪器,该机集成了扫描隧道显微镜、原子力显微镜的接触、侧向力工作模式;可以实现薄膜、块状等多种材质样品的纳米尺度形貌表征和分析。
如需要检测粉体、溶液、纤维、生物样品等柔软、易黏附的样品,请选购配置了AFM轻敲模式的ZL AFM-III型扫描探针显微镜。原理细节可以参考“了解模块”中的相关内容。

二、技术参数

1.扫描系统:
1.1 扫描模式:STM恒流/恒高模式,I-Z/I-V曲线;AFM接触/横向力模式,力曲线测量
1.2 zei大扫描范围:50μm*50μm 单一多量程自适应扫描器不更换技术,zei大50μm扫描器可达HOPG原子分辨率
1.3 分辨率:
STM:X-Y向0.1nm;Z向0.01nm;HOPG原子定标
接触模式AFM:X-Y向0.2nm;Z向0.03nm;云母晶格定标
单一多量程自适应扫描器不更换技术,zei大50μm扫描器可达HOPG原子分辨率
1.4 样品台尺寸:直径≤Φ65mm,厚度≤30mm,重量≤15g
1.5 探针识别:自动识别当前针尖类型,软硬件自动切换到相应的工作模式,无需人工干预。
1.6 探针保护:独特设计的针尖保护技术,包括自动进针保护和平滑移动保护,能有效降低样品对针尖的损伤,使仪器长时间保持高分辨图像。
1.7 探针趋近:高精度高速伺服电机,控制针尖自动逼近样品,行程<30mm,步长<23nm
1.8 样品移动:手动精密机械二维移动平台(移动范围5mm×5mm,精度3μm)。 可选配计算机控制高精度电控样品移动平台。
1.9纳米加工:矢量刻蚀功能 、图形刻蚀功能

2.控制系统:
2.1 控制/采集精度:采用双16位扫描/采样差分同步独立高压放大专利技术,16通道双16位A/D (精度相当于23位);12通道16位D/A;4通道双16位D/A(精度相当于23位)
2.2 反馈方式:8通道 数字化反馈+数控模拟反馈
2.3 中枢控制器:32位ARM技术,16 M RAM ,2M Flash ROM
2.4 高压单元:±300V 纹波噪声1.5mV;4通道双16位D/A(精度相当于23位)提供扫描器XYZ 三个方向的控制电压;可扩展到8通道
2.5 计算机接口:EPP模式并行口 / USB2.0接口 可选
2.6 扫描频率:0.1~300Hz
2.7 扫描角度:-180~180连续可调
2.8 图像采样点:128×128/ 256×256 / 512×512 / 1024×1024 / 2048×2048可调
2.9 电流检测灵敏度≤10pA
2.10 力检测灵敏度≤5pN
2.11预置隧道电流:1pA~50nA
2.12 偏置电压:-10~+10V
 
3.软件系统:
3.1 操作系统:Windows 98/2000/XP
3.2 在线控制软件:四窗口图像界面,可观察4个不同数据通道同步成像;系统智能记忆功能 : 一个参数改变,相关参数会根据系统经验自动调节到zei佳范围;压电陶瓷非线性校正,曲面拟合校正,样品倾斜校正等。
3.3 图像处理软件:3D显示,滤波处理,图像修饰,边缘增强、形态学处理、图像格式转换,图像 几何变换、调色板设置等。
3.4 数据分析软件:粗糙度分析,颗粒度分析,剖面分析,膜厚分析、台阶分析、各种曲线统计/分析等。
3.5 软件开发模板:便于用户进行二次开发,完成特殊的数据处理功能。
3.6 软件服务包:软件以插件方式终身享受免费升级服务。
 
4.工作条件:
4.1 环境温度:0-35摄氏度
4.2 相对湿度:0-65%
4.3 工作电压:220V(±10%),50Hz
 
5.可选配的功能模块技术参数--样品定位辅助模块
5.1 高分辨CCD光学显微系统:在计算机上成像,用于观察探针和样品,放大倍数80—600倍,视场 1.6mm,工作距离10cm,配套控制及成像软件。一体式设计,工作过程中不必移开,可全程随时观测。
5.2 高精度电控样品移动平台:计算机自动控制,配合光学显微系统进行精确样品移动和定位。全程可视
5.2.1 移动范围5mm*5mm,单步zei小步长50nm
5.2.2 高精度电控移动平台和单一大量程自适应扫描器技术结合,实现从zei大量程到zei小几纳米扫描范围内,全程计算机控制样品定位,无盲点
5.2.3 直接用鼠标拖动待测区到目的地,计算机控制移动平台自动移动
5.2.4 可任意设置原点位置,一键返回(计算机控制移动平台自动回到设置的原点位置)
5.2.5 可任意标记多个测样点,编制定位路径,计算机控制移动平台自动到达各设定的测样点
5.2.6 可直接输入X、Y方向移动数值,计算机控制移动平台自动定位国内独家配置,其它厂商只提供手动调节的精密螺杆移动平台,无法实现样品精密定位搜寻。
5.3 单一 大量程自适应扫描器:zei大50μm扫描器可达HOPG原子分辨率 ,测样过程中不用更换扫描器可实现从50微米—几纳米扫描范围连续定位高精度成像(全球独有核心关键技术)

三、主要特点:

1.具有国内SPM仪器中zei高的综合分辨率;50um*50um量程扫描器分辨率:STM X-Y方向0.1nm,Z方向0.01nm;AFM(接触模式) X-Y方向0.2nm,Z方向0.03nm;AFM(轻敲)X-Y方向0.2nm,Z方向0.1nm;卓伦公司专利技术:自适应多形变量程模式压电陶瓷扫描器。

2.具有国内SPM仪器中唯一智能化的高精度电控样品移动平台,具有以下功能:
2.1 移动范围5mm*5mm,单步zei小步长50nm
2.2 直接用鼠标拖动待测区到目的地,计算机控制移动平台自动移动
2.3 可任意设置原点位置,一键返回(计算机控制移动平台自动回到设置的原点位置)
2.4 可任意标记多个测样点,编制定位路径,计算机控制移动平台自动到达各设定的测样点
2.5 可直接输入X、Y方向移动数值,计算机控制移动平台自动定位

3.仪器采用智能针尖自识别技术:当需要在STM/AFM/LFM等工作模式之间相互转换时,只需要替换相应的针尖架,仪器会自动识别当前针尖类型,然后软、硬件会自动切换到相应的工作模式,无需人工干预;卓伦公司专利技术:扫描探针显微镜的智能针尖连接结构。

4.仪器配置软件服务包:软件部分终身享受免费升级服务。软件是仪器的大脑,卓伦公司拥有一支年轻优秀的研发队伍,他们曾是国内第一套基于Windows的拥有自主知识产权的SPM软件系统的开发者。长期的经验积累和不羁的创新思维,造就了全新的MicroNano NewSPM软件系统。

MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜/原子力信息由上海卓伦微纳米设备有限公司为您提供,如您想了解更多关于MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜/原子力报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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