PP3010 Cryo-FIB/SEM 冷冻传输制备系统试样架

Cryo-SEM-and-Cryo-FIB-SEM冷冻扫描电镜和冷冻FIB-SEM双束系统样品制备系统手册

采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱（EELS）提供了前所未有的速度，灵敏度和动态范围，是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流，同时记录高强度的零损峰和高损峰，并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果

采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱（EELS）提供了前所未有的速度，灵敏度和动态范围，是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流，同时记录高强度的零损峰和高损峰，并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果

DECTRIS SINGLA® 探测器是一款针对生命科学应用进行了优化的混合像素电子计数相机。它的敏感面积约为 1,000 x 1,000 像素，适用于冷冻电子显微镜 （cryoEM） 和微电子衍射 （microED） 应用。单颗粒分析和冷冻电子断层扫描的实验也从该探测器的速度中受益匪浅。此外，SI

DECTRIS SINGLA® 探测器是一款针对生命科学应用进行了优化的混合像素电子计数相机。它的敏感面积约为 1,000 x 1,000 像素，适用于冷冻电子显微镜 （cryoEM） 和微电子衍射 （microED） 应用。单颗粒分析和冷冻电子断层扫描的实验也从该探测器的速度中受益匪浅。此外，SI

新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能，不断突破电子探测的极限。同时，这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度，而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。

新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能，不断突破电子探测的极限。同时，这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度，而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。

采用DownStream设计，等离子体中不含任何电荷及离子态物质，防止对样品表面的溅射损伤

常规试样制备包括生产用于透射电子显微镜的高质量横截面标本所需的所有组件。广泛使用的横截面试样包括半导体器件（通常具有多层，因此具有多个界面）、具有薄膜层的试样和复合材料。

常规试样制备包括生产用于透射电子显微镜的高质量横截面标本所需的所有组件。广泛使用的横截面试样包括半导体器件（通常具有多层，因此具有多个界面）、具有薄膜层的试样和复合材料。

用薄金属箔生产高质量的圆盘试样。精密的磨削冲头和模板消除了试样应力和变形。

用薄金属箔生产高质量的圆盘试样。精密的磨削冲头和模板消除了试样应力和变形。

对用于透射电子显微镜的试样进行机械预薄。生产具有平行边的均匀厚度试样。大大减少了离子束铣削最终准备过程中花费的时间。

对用于透射电子显微镜的试样进行机械预薄。生产具有平行边的均匀厚度试样。大大减少了离子束铣削最终准备过程中花费的时间。

一种易于使用、最先进的机械减薄仪器，设计用于高质量透射电子显微镜标本的可重复制备

一种易于使用、最先进的机械减薄仪器，设计用于高质量透射电子显微镜标本的可重复制备

全自动电解双喷仪采用电解腐蚀的方式对透射电镜样品进行减薄，直至达到电子束穿透厚度。两支喷头对样品双面同时进行减薄，几分钟即可完成制备，其制样过程中的电解液流速及双喷电压可通过型号120全自动电源控制器或型号140数字化全自动电源控制器进行控制。

全自动电解双喷仪采用电解腐蚀的方式对透射电镜样品进行减薄，直至达到电子束穿透厚度。两支喷头对样品双面同时进行减薄，几分钟即可完成制备，其制样过程中的电解液流速及双喷电压可通过型号120全自动电源控制器或型号140数字化全自动电源控制器进行控制。

Fischione三维重构冷冻传输样品杆2550环境控制的样品制备 生命科学研究TEM 试样架用于低剂量成像和分析的薄膜冷冻水合/玻璃化标本的冷冻转移和断层扫描。非常适合需要液氮冷却以转移到透射电子显微镜进行成像和分析的样品。