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北京亚科晨旭科技有限公司
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Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT
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Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计创新,实现了更高的重复性和......
Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT可用于半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域
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利用直接驱动扫描平台,Dektak XT减少了扫描间的时间,而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描(就探针轮廓......
Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT可选择三维测量以及数据分析
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德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去......
Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT可用于在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域
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Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT台阶高度重复性优于5埃(<5 ?)· &......
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