AFM及扫描探针Bruker原子力显微镜-Dimension Icon

Bruker公司的AFM具备多项技术，因其卓越性能，广泛应用于科研和工业领域。DimensionIcon系列是布鲁克公司(BrukerAXS)原子力显微镜的旗舰产品，凝聚了二十多年的技术创新、客户反馈和行业应用的经验和成果。
应用范围广泛，涵盖了聚合物材料表征、集成光路测量、材料力学性能表征、MEMS制造、金属/合金/金属蒸镀的性质研究、液晶材料性能表征、分子器件、生物传感器、分子自组装结构、光盘存储、薄膜性能表征等领域的监测和各类科研和生产工作。
原理上，原子力显微镜的工作模式主要分为接触模式（contact mode)、非接触模式（non-contact mode）和敲击模式(tapping mode)。
特点包括：低漂移和低噪音水平、配备专有ScanAsys原子成像优化技术、测试样品尺寸可达直径210mm，厚度15mm、温度补偿位置传感器使Z轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平、全新的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度、探针和样品台的开放式设计使Icon可胜任各种标准和非标准的实验、先进的布鲁克AFM的模式和技术，如高次谐波共振模式，和独有的不失真高温成像技术等。
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