扫描电镜/FIB原位纳米压痕仪Hysitron PI 88

扫描电镜/FIB原位纳米压痕仪：布鲁克Hysitron PI 88

 PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其最大特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。

真正实现直接观察条件下的定量纳米力学表征；高级的XYZ方向样品定位，配合可选倾斜和旋转样品台；模块化设计，可搭载全套测试技术，包括800℃热台，划痕，扩展量程的传感器，电学偏压等。

轻松搭载定量纳米力学测试

深入了解纳米尺度下的力学性能

在您实验室已有的熟知仪器上获得力学数据，在您电镜上扩展如下功能，包括:

1.纳米压痕微悬臂弯曲

2.微柱或微颗粒压缩

3.拉伸测试

4.纳米划痕

整个实验过程中始终如一的稳定性

布鲁克的原位解决方案专为电镜环境下的出众性能而设计。真空相容性/检测器定位和机架柔度等相关因素均被严格考虑。我们专属的传感器技术确保实验过程中精细纳米力学测量所需的灵敏度和稳定性，而数位控制器提供了超快的反馈和数据采集率。因而应力诱发变形过程之前、之中、之后都得以高速捕获加以分析。

稳定性和精准度

Hysitron PI88 配套一套真空适用的布鲁克纳米尺度传感器和导电金刚石压头。通过传感器中的静电力施以载荷，电容记录位移。低电流设计带来的超低温漂保证了前所未有的灵敏度。与传感器配合的是一套在XYZ三轴方向均>8mm的高级样品定位载台，可实现在较大样品上超好的横向精度以及线性和灵活定位。在这一简洁平台机械继承的载台和传感器为使用者提供了纳米力学测试所需的稳定、刚性的基础。

该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。

PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

800°C Heating

Electrical Characterization

Push-to-Pull Device

nanoDynamic Mode

nanoScratch Mode

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途