您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?

稍后再说 立即咨询
咨询列表
广州贝拓科学技术有限公司
X
头像

客服中心

如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息

400-6699-1171000
发布求购 平台客服
扫码下载
"来会会"App
扫码关注
分析测试百科网

广州贝拓科学技术有限公司

400-6699-1171000

分析测试百科网 认证会员,请放心拨打!

热门搜索:
分析测试百科网 > 贝拓科学 > 白光干涉测厚仪 > TF200光学膜厚仪

TF200光学膜厚仪

非会员

诚信认证:

工商注册信息已核实!

扫一扫即可访问手机版展台
参考报价: 面议 型号: TF200
品牌: 贝拓科学 产地: 广东
关注度: 23 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
产地类别国产供应商性质生产商
价格范围10万-20万
咨询留言 在线咨询

400-6699-1171000

仪器介绍   

    TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。


产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高


应用领域

半导体(SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS,SOI等)

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻胶ITO等)

触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)

汽车(防雾层、Hard Coating DLC等)

医学(聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等)


技术参数

型号

TF200-VIS

TF200-EXR

TF200-DUV

TF200-XNIR

波长范围

380-1050nm

380-1700nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范围

50nm-40um

50nm-300um

1nm-30um

10um-3mm

准确度1

2nm

2nm

1nm

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90℃

90℃

90℃

90℃

样品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

测量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸2

2mm

2mm

2mm

2mm

是否能在线

扫描选择

XY可选

XY可选

XY可选

XY可选

注:1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。

       2.可选微光斑附件。


TF200光学膜厚仪信息由广州贝拓科学技术有限公司为您提供,如您想了解更多关于TF200光学膜厚仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

TF200光学膜厚仪 - 产品推荐

移动版: 资讯 Webinar 仪器谱

Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号