RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡

日本JIMA RT CT-05B   X射线微米分辨率测试卡

先jin的微米技术实现了具有 16 种不同宽度（3 至 50μm）的高精度线对分辨率测试卡。 当今，微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸，而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。

规格尺寸：40 x 30 mm, 3mm 厚度

硅基：8 x 8 mm, 0.2mm 厚度

吸收材料：金，厚度≥1.0μm

保护膜：铝蒸汽保护膜，厚度 0.1mm

线数：3 线（只有 3-10μm：6 线）

线条宽度（线条与间距宽度相同）：

T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm；
Ｉ型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm

线对宽度公差：±10%

工作温度：+10℃至+70℃

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途