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| 参考报价： | 面议 | 型号： | STF-110 |
| 品牌： | 日立 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 9 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 产地类别 | 进口 | 供应商性质 | 一般经销商 |
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1.即放即测！ 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 3.可无标样测量！ 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！
［SFT-110的主要特征］
1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。
2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4. 广域观察系统（选配） 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
5. 对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
6. 低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。
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［主要产品规格］ |
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检测器 |
比例计数管 |
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X射线源 |
空冷式小型X射线管 |
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准直器 |
0.1、0.2mmφ2种 |
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样品观察 |
CCD摄像头 |
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样品台移动量 |
250（X）×200（Y）mm |
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样品最大高度 |
150mm |
X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110信息由热力科技为您提供，如您想了解更多关于X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
