系统主要特点：

高效便捷的薄膜材料表征手段（nm到um薄膜测试）。

不同温度下的测量（-170 to 200℃<-可选300℃>）

样品易于制备和处理

高的测量适应性 (样品厚度，电阻率，沉积方式)

一个样品，一次同步测量即可获得所有相关参数。

适用于金属、陶瓷及有机材料。

基本测量单元 ：

测量室，真空泵，带加热器的支架，电子颊侧装置，集成锁相放大器，3w方法分析软件，计算机和应用软件。可测以下物理参数：

 l -热传导系数 (稳态法/平面内方向)

 r - 电阻率

 s - 电导率

 S - 赛贝克系数

 e – 发射率

 cp - 比热容

磁测量单元

可根据需求选择集成式电磁铁，可测物理参数如下：

 AH - 霍尔常数

 μ –迁移率

 n -载流子浓度

薄膜材料性能有别于块体材料之处

-        因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如：边界散射和量子限域效应

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途