用于测试印刷电路板的专业XRF系列如今的印刷电路板有大量的涂层接触点。为了保证焊接点的可靠性、耐腐蚀性和保质期，各种材料各自的厚度必须保证相应的正确。为了监测这......
特点功能强大的高级型号，用于最小结构和小于 0.1 µm 的最薄涂层的精确涂层厚度测量和材料分析带钨靶的微聚焦射线管；可选钼靶4种可切换的滤波器极其强大的硅漂移......
特点高端泛用的XRF分析仪，用于超薄镀层 (<0.05μm) 的自动测量和低于每密耳范围的精细材料分析，符合ISO 3497 和 ASTM B 568 标......
特征XRF测试仪器符合 X射线标准 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568无损测量≤ 0.1 µm (0.004 mils) 的超薄镀层的镀层厚度及......
特点采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准，用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪3种不同的探测器......
特点能量色散X射线荧光光谱仪，自动进行材料自动分析和镀层厚度的无损测量，采用ISO 3497和ASTM B 568标准；XDLM的最小测量点： 0.1毫米; X......
特点通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重......
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪高端半导体检测器（PIN和SDD......
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm......
特点无损、快速、精确的金测试宽敞的测量室紧凑而坚固的设计，适合长期使用无需样品制备。只需简单地将物品放在测量室的测量窗口上>摄像头会为您显示确切的测量位置......
仪器简介：适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新......
仪器简介：WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件 WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行；因为透过简单......
仪器简介：适用于Windows®2000的真Win32位程序带在线帮助功能； 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用； 能通过“应用......
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SIGMASCOPE SMP350 是一款结构紧凑的手持式设备，适用于测定非铁磁性金属（如铝或铜）的电导率。通过测得的电导率能够进一步得出与热处理材料的硬度与强......
仪器简介：价格便宜的DELTASCOPE® MP10E仪器适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的......
仪器简介：PHASCOPE PMP10是一款根据相位感度涡流方法快速，简便和现场的测量镀层厚度的手提式仪器。通过选择合适的测量探头，甚至可以达到非接触式的测量。......
FMP10—FMP40 系列手持式涂镀层厚度测量设备可提供精确的测量结果，多种测量技术使其具有高度的灵活性。包括采用磁感应测量 (DELTASCOPE®)、电涡......
模块化测量系统 FISCHERSCOPE MMS PC2，搭载 Windows™ CE 操作系统，是适用于高精度涂镀层厚度测量与材料测试的理想解决方案。具备通过......
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