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用于动力学监控的原位纳米粒度测量技术
发布时间：
2020-02-28 17:08
来源：仪思奇（北京）科技发展有限公司
| 领域： | 地矿/钢铁/有色金属,电子/电器/半导体,纳米材料,高分子材料,生物质材料,电池/锂电池 | ||
| 资料类型： | 用户通讯 | ||
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用于动力学监控的原位纳米粒度测量技术 |
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本文介绍了用于原位纳米粒度分析的唯一远程光纤探头技术VASCO KinTM。由法国高端技术公司（CORDOUAN Technologies）开发的VASCO KinTM是一款功能全面的纳米粒度分析仪，它利用先进的单模光纤技术将DLS测量导入到你的过程监控。创新的光纤远程探头(下文介绍其原理)使VASCO Kin能够非常简单地结合到你现有的实验装置上(如合成反应器或小角X光散射SAXS系统)，给用户提供了最大的测量灵活性，以监测和改进其工艺过程的颗粒粒度随时间或反应条件的变化。
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