美国MAS激光粒度仪aps-100可用于测定乳剂，乳粒，适用于乳剂，乳粒项目。并且参考多项行业标准胤煌科技。可应用于原油行业领域。

专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。

多孔材料表面Zeta电位分析仪

主要用途：

• 半导体化学机械抛光(CMP)料浆；

• 陶瓷；

• 油墨；

• 乳剂稳定性；

• 药品；

• 生物胶体；

• 荧光粉；

• 有机和无机颜料如Ti02和炭黑；

• 催化剂；

• 矿物；

• 聚合物乳液；

• 水和非水分散体系；

技术参数：

• 完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；

• 不需要稀释样品；

• 不需要假设PSD形状；

• 粒度范围：0.005-100微米；

• 无电解质干涉；

• 可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；

• 可测量纵向粘度，%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；

• 具有自动滴定选项；

• 专门技术：1-100MHz声衰减谱；

• 溶剂：水/非水；

• 样品固体%：0.1-60%体积比；

• 样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

APS-100高浓度纳米粒度仪  CHDF4000型纳米粒度仪及成分分析仪          Zeta-APS型电位分析仪

多孔材料表面Zeta电位分析仪

原理简介：

APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。

当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。

APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。

计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途