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参考报价: | 面议 | 型号: | GDAT-C |
品牌: | 北广仪器 | 产地: | 北京 |
关注度: | 7 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
产地类别 | 国产 | 供应商性质 | 总代理 |
400-6699-117转1000
介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
主要技术特性 :
Q 值测量范围 | 2 ~ 1023 |
量程分档 | 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档 |
固有误差 | ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ) ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) |
工作误差 | ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ) ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) |
电感测量范围 | 4.5nH ~ 140mH |
电容直接测量范围 | 1 ~ 200pF |
主电容调节范围 | 18 ~ 220pF |
主电容调节准确度 | 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 % |
信号源频率覆盖范围 | 100kHz ~ 160MHz |
频率分段 ( 虚拟 ) | 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz, 10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz |
频率指示误差 | 3 × 10 -5 ± 1 个字 |
搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
概述
BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据精确。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化,测得绝缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。
BD916介质损耗测试装置技术特性 :
平板电容器 | 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选 |
极片间距可调范围 | ≥15mm |
夹具插头间距 | 25mm±0.01mm |
夹具损耗正切值 | ≤4×10-4 (1MHz) |
测微杆分辨率 | 0.001mm |
电感:
线圈号 | 测试频率 | Q值 | 分布电容p | 电感值 |
9 | 100KHz | 98 | 9.4 | 25mH |
8 | 400KHz | 138 | 11.4 | 4.87mH |
7 | 400KHz | 202 | 16 | 0.99mH |
6 | 1MHz | 196 | 13 | 252μH |
5 | 2MHz | 198 | 8.7 | 49.8μH |
4 | 4.5MHz | 231 | 7 | 10μH |
3 | 12MHz | 193 | 6.9 | 2.49μH |
2 | 12MHz | 229 | 6.4 | 0.508μH |
1 | 25MHz,50MHz | 233,211 | 0.9 | 0.125μH |
介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项技术:
A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有工程师为您解决您的疑问!
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途