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Prisma & Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜

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参考报价: 面议 型号: Prisma & Prisma EX
品牌: FEI 产地: 美国
关注度: 96 信息完整度:
样本: 下载 典型用户: 暂无
产地属性美洲仪器种类钨灯丝
二次电子图象分辨率见下列说明放大倍数见具体说明
电子光学见具体说明样品台见下列说明
探测器见下列说明背散射电子图像分辨率见具体说明
加速电压见下列说明

Prisma & Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜

Prisma & Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜

产品规格

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凭借过去 60 年的技术创新历史和业内领导地位, FEI 成为了透射电子显微镜 (TEM)、 扫描电子显微镜 (SEM)、整合了 SEM 与聚焦离子束 (FIB) 的 DualBeam™ 仪器和 用于精密高速切割与加工的专用聚焦离子束仪器的性能标准。 FEI 成像系统在三维 表征、分析和修改/原型设计领域实现了亚埃(埃:十分之一纳米)级分辨率。

性能与优点

 

Prisma & Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜

  • 一款真正多用途实验室用性能全面、易操作的SEM钨灯丝扫描电子显微镜

  • 具有独有的ESEM™环境真空模式

  • 高真空、低真空和ESEM™环境真空三种真空模式,适合分析zei广泛的样品,样品范围包括导电材料、不导电材料、脱气、未镀膜或其他不适用真空的样品。

  • 一系列集成的实时分析软件来完成动态的实验检测分析。

  • 低真空和ESEM环境真空能够满足非导电材料和含税样品的检测分析

  • 原位功能使即使是绝缘的或高温的样品也能获得可靠的分析结果。

  • 支持扫描前的预设置,具有导航和SmartScanTM功能的相机提高了工作效率、数据质量和满足更高要求的使用要求。

  • -165°C to 1400°C温度范围下的原位分析

  • 加速电压: 200 V - 30 kV

  • 电子放大倍数: 6x – 1,000,000x (可同时采集和显示四幅图像)

  • 探测器:高真空模式Everhart-Thomley二次电子探测器(E-T SED);低真空SE探测器(LVD);ESEM环境真空模式气体二次电子探测器(GESD);样品室红外CCD相机

  • 真空系统:1个250L/s涡轮分子泵,1个旋转机械泵;专利的“穿过透镜”的压差真空系统;排气时间≤3.5min到高真空,≤4.5min到ESEM真空/低真空;可选CryoCleaner冷阱;可选升级到无油滚动/干式PVPs

  • 样品室:

o 内径 340 mm

o 分析工作距离 10 mm

o 12个附件接口

o EDS采集角: 35°

  • 分辨率:

高真空模式

  • 3.0 nm @ 30 kV (SE)

  • 4.0 nm @ 30 kV (BSE)*

  • 8.0 nm @ 3 kV (SE)

高真空下减速模式

  • 7.0 nm @ 3 kV

低真空模式

  • 3.0 nm @ 30 kV (SE)

  • 4.0 nm @ 30 kV (BSE)

  • 10 nm @ 3 kV (SE)

  • ESEM环境真空

    • 3.0 nm @ 30 kV (SE)

 


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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