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徕卡显微镜Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统

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参考报价: 面议 型号: Leica DM3 XL
品牌: 徕卡 产地: 德国
关注度: 23 信息完整度:
样本: 下载 典型用户: 暂无
产地属性欧洲产品类型正置
配备图像分析系统
光路系统见下列参数说明观察头见下列参数说明
目镜见下列参数说明物镜见参数说明
总放大倍数见下列参数说明物镜转轮见下列参数说明
载物台见下列参数说明调焦机构见下列参数说明
照明系统见下列参数说明可升级配件见下列参数说明

Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统

Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统

产品规格

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在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快。DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷,提高您的收益率。充分利用独特的宏观物镜,视场宽敞 30%。

性能与优点

 

更多细节尽收眼底,工作更高效

看到更多细节意味着工作更高效。为快速扫描达到 6" 的大组件,DM3 XL 提供独特的宏观物镜。

利用 0.7x 放大倍率,它可以即刻采集 35.7 mm 的视场 – 比其他常规扫描物镜宽敞 30%。

在宏观物镜下,缺陷无所遁形:

  • 提高您的收益率

  • 可靠检测晶片边缘或中心显影不足的区域

  • 检测不均匀的径向膜厚度

 

 

 

适用于所有相衬观察方法的 LED

DM3 XL 针对所有相衬观察方法使用 LED 照明。LED 照明可提供恒定的色温,并在所有亮度等级下提供真彩色成像。

在所有亮度等级下实现真彩色成像

  • 自由调节

  • 无需更换灯泡 – 无停机时间

  • 可复制的结果

由于 LED 使用寿命长,耗电量低,因此还具有巨大的成本节约潜力。

 

 

 

光学“高手”

DM3 XL 让您以实惠的价格享受到卓越的光学性能。

  • 采用斜射照明检验侧面、边缘或碎屑:以简单有效的方式从不同角度照亮样品,从而实现各种形貌的可视化。

  • 借助深暗场对比检测样品较低层中的微小划痕或小颗粒。

您将对明显提高的灵敏度和分辨率感到震惊。

 

 

 

不同样品 – 可变载物台插件

无论您想要检验的样品是哪种类型,尺寸如何,均有种类丰富的载物台插件供您选择:

  • 载物台尺寸:150 mm x 150 mm

  • 载物台插件:金属插件、晶片支座或掩模支座

  • 快速的粗略或精准载物台定位

 

 

 

工作舒适直观

彩色编码光圈辅助 (CCDA) 对分辨率、对比和景深的基本设置进行简化,有助于提升您的工作速度,并zei大程度减少操作失误。

直观明了的功能帮助您的团队更快速地交付zei佳结果。 

  • 得益于可轻松操作的控件,用户可在切换对比度或照明时,双手继续操作显微镜,双眼专注于样品之上。

  • 右手可轻松操控光强控制器

  • 使用可变人体工学镜筒和调焦旋钮,根据不同身高调整显微镜

 

~ 更多产品详情,请致电021-80109380 ~


徕卡显微镜Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统信息由圆派科学仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于徕卡显微镜Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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