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Nanonics原子力显微镜与拉曼光谱仪、Smiths红外和SEM连用一体机

参考报价: 面议 型号: Nanonics
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 581 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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仪器简介:

NANONICS IMAGING LTD. (以色列NANONICS有限公司)是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的领头羊。公司成立于1997年,NANONICS是业界成立zei久并且对此类系列产品经验zei丰富的公司之一,其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统的推动下,今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借着实力和品质,其产品涉足的领域从科研到工业,从生物学到半导体,从化学制品到无线电通讯,应用范围极其广泛。

低温NSOM/AFM拥有先进的系统设备、环境友好的样品反应室、化学药品和气体自动传送系统;还有nano-印刷术系统,给消费者提供一个空前的系统配置选择。加上有AFM/NSOM/SEM的整合与AFM/NSOM/micro-Raman的整合系统这样强大的成象结合,可以让用户拥有唯一的实验平台来完成所有的材料表征应用。探针包括NSOM探针,micro-pipettes是检测热、电性能的,同时探针还可以提供气体和液体加样,这是Nanonics系列产品独有的功能,可以为提供用户在很小的范围内做原位反应等。NAONICS系统兼容可所有供应商提供的SPM探针。

Renishaw PLC Ltd是zei主要的Raman微型光谱成像系统的供应商,第一次与Nanonics Imaging Ltd一起合作制造了Raman化学成像的扫描探针显微镜(SPM)。此发明获得2003年光子学循环的卓越奖,AFM和Raman的结合物既能运行AFM扫描也能做Raman扫描。目前没有一个系统能比得上Nanonics和Renishaw结合物的强大功能。现在,我们又将瑞典Smiths有限公司的在线红外测试仪和扫描电镜SEM与其结合在一起,使其拥有更强大的材料表征功能,同时客户可以得到更高性价比的仪器。

Smiths的IlluminatIR 显微镜式傅立叶红外光谱仪将化学分析的功能并入在一般的光学显微镜工作平台上。这紧密且高超性能的系统结合到工业主流的显微镜结构上,同时也保持原有显微镜系统在光学分析上的功能。现在你可以在一个单一的工作站上,利用分子光谱学的功能分析你所有种类的样本,而获得可靠且精确的结果。IlluminatIR 将一台普通的光学显微镜变为一台可分析微观样品分析分子结构的光谱工具。你不再需要专门购买一台红外光谱仪去做光谱分析了,只要将IlluminatIR 组件加装到光学显微镜上,就可在观察样品的同时进行样品分析. 

瑞典凯戈纳斯有限公司上海代表处是由英国THT公司和另外三家瑞典公司共同注资成立的,机构设在上海,为NANONICS有限公司在中国的所有用户提供全方位的售后服务和技术支持。 



技术参数:

Nanonics SPM

1、扫描方式:针尖扫描

2、分辨率: XY方向<5nm、Z方向<1nm

3、扫描范围: XY方向70um、Z方向70-120um,另外有30um和10um扫描器选配

4、扫描步进:70um扫描器<1nm、10um扫描器<0.1nm

5、扫描器厚度:7mm;重量:75克

6、zei大样品尺寸:半径16mm,另根据客户需求可以选配任何合理尺寸;

**********探针**********

zei大特点:所有的商业化的探针均适用于当前的Nanonics NSOM操作

※NSOM探针
※AFM探针
※研究超低弹性模量的AFM探针
※专用于深沟的AFM探针
※中空的AFM探针
※玻璃绝缘的AFM传感纳米线
※双线玻璃绝缘探针
※普通模式SPM探针

**********操作模式**********

※NSOM反射模式
※NSOM透射模式
※NSOM收集模式和收集暂时场模式
※NSOM荧光模式
※NSOM-PL模式
※三维共聚焦成像(透射、反射、荧光)
※非接触式NSOM、液体(生物样品)NSOM

**********Nanonics Analog控制器**********

※软件包-NT,Win95/98,XP兼容;
※实时图像显示,图像获取(高达8通道)及分析,3D处理;
※LabVIEW软件包拥有4通道的数据采集功能;



主要特点:

A:SPM-Raman连用的优点:

1)AFM“自动聚焦”使得拉曼光谱的强度可有效比较

2)拉曼光谱的分辨率有显著的提高

3)表面增强技术—Enhanced NSOM Raman

B:SPM-SEM连用的优点:

1)Simultaneous and Independent SPM/SEM Imaging.

2)Transparent integration with any SEM or FIB with a sample chamber big enough.

3)Normal Force Sensing: Contact, Non-Contact, and Intermittent Contact Modes in SPM.

4)High resolution Cathodoluminescence measurement.


**************应用范围宽***************

1、表面和材料科学
微纳米结构表征、粗糙度、摩擦力、高度分布、自相关评估、软性材料的弹性和硬度测试

2、生物应用
液体中完整活细胞成像、细胞膜孔隙率和结构表征

3、薄膜表征
孔隙率分析、覆盖率、附着力、磨损特性、纳米颗粒、岛屿分布

4、硬盘检查
表面检查和缺陷鉴定、磁畴成像、摩擦力和磨损方式和读写头表征

5、半导体制造中的测试
高分辨率地定量结构分析以及掺杂浓度的分布等各种材料特征

6、失效分析
缺陷识别、电性测量和键合电极大摩擦特性等


*************测试独特**************

1、测试环境控制NSOM,至液氦温区和超高真空度

2、环境控制操作与光学显微镜、微拉曼等完全兼容

3、独有的电学及热学测量

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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