晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM......
Automated Industrial AFM for High-Resolution 3D MetrologyPark Systems推出革命性的XE-3D......
Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measuremen......
The Fully Automated AFM for Accurate Inline Metrology of Hard Disk Head Sliders ......
* 应用 - 媒介和基体自动缺陷检查 更高的通量，自动的缺陷检查NX-HDM的自动缺陷检查功能(Park ADR)可加速和改良识别、扫描和分......
Higher Throughput, Automatic Defect Review对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工......
Automatic Defect Review for Media and SubstratesHigher Throughput, Automatic Def......
毫无争议的最佳原子力显微镜-自动缺陷检查和表面粗糙度测量 更高的通量，自动的缺陷检查对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作......
Park NX-3DM的特点 倾斜式Z轴扫描系统NX-3DM独具匠心地将Z轴扫描器倾斜设计，且通过专利的串扰消除原子力显微镜平台，XY轴与Z轴扫描器完......
* 应用 侧壁和侧凹高分辨率成像 侧壁和侧凹临界尺寸(CD)测量NX-3DM的倾斜式Z轴扫描器设计让探针能够扫描到光刻胶的侧壁和侧凹结构。·......
Park NX-3DM Accuracy Like Never Before随着半导体越变越小，设计如今需要做到纳米级，但是传统的测量工具无......
产品介绍 Park Systems推出的NX-3DM全自动原子力显微镜系统，专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角测量设计。借助独有的XY轴和Z轴独立......
Inline Automation, for Fast, Accurate, and Repeatable PTR Measurements硬盘驱动滑块制造业要......
The Fully Automated AFM for Accurate Inline Metrology of Hard Disk Head Sliders ......
Automated Inline Measurements of Hard Disk Sliders随着硬盘滑块的尺寸越来越小，复杂性越来越高，提高产量的关键在......
Automated Inline Measurements of Hard Disk Sliders随着硬盘滑块的尺寸越来越小，复杂性越来越高，提高产量的关键在......
工业领先的低噪声帕克原子力显微镜于长距离滑动台相结合，成为用于化学机械抛光计量的原子力轮廓仪，新的低噪声AFP为局部和全面均匀性测量提供了非常平坦的轮廓扫描，具......
产品介绍? 自动化工业级原子力显微镜，带来线上晶片检查和测量 Park Systems推出业内噪声最低的全自动化工业级原子力显微......
Park NX-Wafer 低噪声原子力轮廓仪，用于更精确的CMP轮廓测量亚埃级表面粗糙度测量具有极高的精度和极长的探针使用寿命用于缺陷成......
高精度探针针尖变量的亚埃米级表面粗糙度测量，晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的，对于先进的元件制造商，芯片制造商和晶圆供应商都要求......
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