韩国ISP iEDX-150T镀层测厚仪

应用领域

iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域

技术指标

多镀层分析，1～5层

测试精度：0.001 μm

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

测量时间：10~30秒

SDD探测器，能量分辨率为125±5eV

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射线管50KV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）

6个准直器及多个滤光片自动切换

 XYZ三维移动平台，zei大荷载为5公斤

 高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置

多变量非线性去卷积曲线拟合

高性能FP/MLSQ分析

仪器尺寸：618×525×490mm

平台移动范围：160×160×100mm

图谱界面

软件支持无标样分析

宽大分析平台和样品腔

集成了镀层界面和合金成分分析界面

采用多种光谱拟合分析处理技术

镀层测厚分析精度可达到0.001μm

分析报告结果

直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式

样品分析图谱：

测试结果界面：

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途