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多层膜型XRF分析晶体

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参考报价: 面议 型号: Multilayers XS-55, XS-N, XS-C, XS-B
品牌: incoatec 产地: 德国
关注度: 11 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
产地类别进口供应商性质总代理
组件类别光学元件
组件类别 光学元件
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Multilayers XS-55, XS-N, XS-C, XS-B

Multilayers are not natural crystals but artificially produced “layer analyzers.” The lattice plane distances d

are produced by applying thin layers of two materials in alternation onto a substrate (Fig. 18). Multilayers

are characterized by high reflectivity and a somewhat reduced resolution. For the analysis of light

elements the multilayer technique presents an almost revolutionary improvement for numerous

applications in comparison to natural crystals with large lattice plane distances.

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Fig. 18: Diffraction in the layers of a multilayer crystal

XS-55:

The most commonly used multilayer with a 2d-value of 5.5 nm for analyzing the elements N to Al and Ca

to Br; standard application for measuring the elements F, Na and Mg.


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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