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X射线荧光测厚仪
XRF镀层测厚仪FT230
概要:FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着突破性的分析仪......
XRF镀层测厚仪FT160
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供......
XRF镀层测厚仪X-Strata920
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供......
XRF镀层测厚仪FT100A/FT110A
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供......
XRF镀层测厚仪FT210
智能镀层分析,数据互联,效率起飞FT200系列台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因......
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