日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案，以应对涂镀层行业的常见挑战

日立分析仪器是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案，以应对涂镀层行业的常见挑战。

FT 系列涂镀层测厚仪旨在对生产质量控制发挥关键作用，其在金属饰面处理和电子市场中的具有广泛应用。FT110A 和 FT150 系列为复杂形状的大型零 件测量以及小型特征超薄涂层测量提供了新型解决方案。这两种仪器均属于台式 EDXRF（能量色散X射线荧光）光谱仪，具有功能强大的软件和硬件，旨在提 高样品分析量，任何操作员都可获得高质量的结果。

FT110A

FT150

轻松处理复杂样品

FT110A 包 含多个特征，用于测量通常难以处理的零件。可配置全封闭或开槽门的大型腔室，可装入汽车零部件和装饰五金件，与处理小型紧固件一样容易。自动对焦程序可以 在离样品表面 80mm 的位置进行测量，非常适合测量凹陷区域或快速测量不同高度的多个零件。自动接近功能提供一键式定位功能，可将X射线组件设置在理 想距离，以获得有复验性的结果。宽视角摄像头将呈现整个样品的图像，以便轻松定位所需的测量位置。只需点击图像中的特征，它将自动对准进行分析。

测量纳米级的涂层

FT150 配 置高端组件，可以提供精细结构上的超薄涂层的元素分析。毛细聚焦管聚焦X射线束直径小于20μm，实现在样品上聚焦更大强度，并测量小于传统准直器可测量 的特征。高灵敏度、高分辨率Vortex®硅漂移探测器（SDD）充分利用光学元件测量微电子设备和半导体上的纳米级涂层。高精度载物台和具备数字变焦功 能的高清摄像头可快速定位样品特征，以提高样品分析量。

日立分析仪器产品经理 Matt Kreiner 表示：“受到40年XRF镀层测厚仪研发经验启发，FT110A 和 FT150 使用的智能功能解决了涂镀层分析中最难的一些挑战。FT110A 的样品处理能力和 FT150 的微焦分析能力补全了我们全套涂镀层测厚仪系列，我们很 高兴为客户提供这些新型解决方案。”

关于日立高新技术公司

日立高新技术公司总部位于日本东京，从事科学和医疗系统、电子设备系统、工业系统和先进工业产品等广泛领域的活动。公司2017财年的综合销售额约为6877亿日元（约合63亿美元）。

关于日立分析仪器公司

日立分析仪器是2017年7月成立并隶属于日立高新技术集团的全球性公司，总部位于英国牛津。其研发和生产运营部门位于芬兰、德国和中国，在全球许多国家可提供销售和支持服务。我们的产品系列包括：

• FT系列、X-Strata 和 MAXXI 微焦斑 XRF 分析设备可测量单层和多层合金涂层厚度，可应用于质检和过程控制和科研实验室。

• Lab-X5000 和 X-Supreme8000 台式 XRF 分析仪可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制。

• 我 们的 PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER 和 TEST-MASTER 系列直读光谱仪被世界各行各业用来进行快速和精确的金属分析。这些仪器采用光学发射光谱技术可测定所有重要元素，其检测限低，精度高，包括钢中的碳和几乎 所有金属中所有技术相关的主要元素和微量元素。

• X-MET8000 手持分析设备，采用高精度 XRF 技术，可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析，包括废旧金属分拣和金属品级筛选。

• Vulcan 手持分析设备，采用 LIBS 激光技术，可一秒检测金属合金，为检测量大的金属行业客户提供了最佳检测解决方案。