ChronosDFD频域式稳态瞬态荧光光谱仪技术宣讲

2017年11月30日兹此月末之际，北京培科创新技术有限公司携手中科院长春应化所电分析化学国家重点实验室举办“新型数字频域法荧光测试方法介绍会”。此次技术交流会得到应化所电化学分析重点实验室于聪研究员的大力支持，参会的有长春应化所，吉林大学，东北师范大学等高校师生。会议对于美国ISS公司新型数字频域式稳态瞬态荧光光谱测量技术的原理及频域法的技术优势做了详细介绍。

新型数字频域技术既拥有传统频域法固有的测试速度快和极低寿命测试能力的特点，同时降低了测试成本和提升了测试灵敏度。新的数字频域法测试技术与时域法TCSPC测试技术相互补充，拓展和提升了荧光寿命的测试功能。相比于传统时间相关单光子计数法测量荧光寿命，数字频域法荧光寿命采集快速，可在数秒内完成测试；荧光/磷光寿命测量范围20ps-100m，无需更换硬件；平行光路设计，一步测量各项异性（偏振）。

会议交流中来自东北师范大学化学学院分析测试中心张云峰老师，亲自体验了美国ISS ChronosDFD数字频域式瞬态荧光光谱仪后表示：数字频域采集速度快对于日常样品测试具有很大意义，我们实验室每年的待测样品量可达3000-4000个，因为机时紧张，一般不会安排需要较长测量时间的样品进行测试，使用TCSPC的方式，很多样品需要等待很长时间才能安排测量。同时，频域法一秒内能完成样品测量，对于部分需要避免较长光照的样品，具有很强技术优势。

北京培科创新技术有限公司于2017年引入美国ISS数字频域稳态瞬态荧光光谱仪，通过数字频域法原理的介绍，使用户了解了频域法的测量优势，对于瞬态寿命的测量方式及应用领域有了新的认识。培科创新立足于以技术服务客户，为用户提供更好更领先的分析测试技术和产品方案！