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荧光寿命成像-技术与应用

发布时间: 2019-08-07 11:05 来源:北京培科创新技术有限公司
资料类型:标准

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荧光寿命成像(FLIM)利用了荧光团的荧光寿命取决于其分子环境而不是浓度的原理。因此可以在无需了解荧光团浓度的前提下独立的调查分子对于荧光寿命的影响。利用显微镜观测荧光寿命技术存在很多变种。这篇文献的技术部分主要介绍了多维时域FLIM时间相关单光子计数、通过门控图像增强的时域FLIM、通过增益调制图像的频域FLIM和使用光电倍增管的频域FLIM。应用部分介绍了最常见的一些FLIM应用:测量分子环境参数、荧光共振能量转移(FRET)观测蛋白质相互作用和通过细胞自发荧光组织观测细胞或者组织的代谢状态。我们可以通过荧光团的淬灭或者荧光寿命的变化来计算环境参数或者构象变化。这种基于强度的测量不需要特定比例的荧光团,因此可以选择更多种类的荧光团,同时可以测量更多的细胞参数。FLIM-FRET技术测量了供体与受体反应之后的荧光寿命衰减变化。结合FLIMFRET测量无需考虑供体渗漏或者入射光直接激发受体这样的问题。这同样也放宽了对于供体与受体的光谱选择。此外,FLIM-FRET测量能够分辨活性与非活性供体的分数,这样就能分别观测供体与受体之间的距离和参与反应的蛋白质分数。这是稳态的FRET技术无法做到的。自发荧光FLIM用内源性荧光团探索了细胞或组织的代谢状态带来的衰减参数改变。在了解生物相关化合物结合、构象,和组成等方面,FLIM可提供稳态荧光技术无法得到的信息。


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