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轮廓仪/粗糙度仪
三维表面轮廓仪
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三维表面形貌仪
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非接触光学轮廓仪
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三维表面形貌仪
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三维表面轮廓仪
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探针式轮廓仪/三维形貌仪
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表......
非接触光学轮廓仪
Premium反复性、准确性、重现性极佳框架一体型自动镜头调整钮优秀的Capacity Sensor自动滤镜缝纫功能自动对焦功能安装2个变焦距镜头产品概要&nb......
三维表面轮廓仪
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HRP®-260
HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪。HRP的性能经过生产验证,能够进行自动化晶圆装卸、可为半导体、化合物半导体、......
P-170
P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,将行业领先的P-17台式系统的测量性能和经过生产验证的HRP®-260的机械传送臂相结合。&n......
P-17
P-17是第八代台式探针轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。该系统领先业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无......
P-7
P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接......
KLA
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触......
Zeta-20
Zeta-20台式光学轮廓仪是非接触式3D表面形貌测量系统。 该系统采用ZDot™专利技术和Multi-Mode (多模式)光学系统,可以对各种不同的......
Zeta-300
Zeta-300光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。 Zeta-300继承了Zeta-20的功能,并增加了隔离选项以及处理更大样品的灵活性。......
Zeta-388
Zeta-388光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。 Zeta-388继承了Zeta-300的功能,并增加了晶圆盒至晶圆盒机械臂,可实现全自......
MicroXAM-800
  针对纳米级到毫米级特征的相位和垂直扫描干涉测量·       &n......
KLA
Alpha-Step D-600探针式轮廓仪支持台阶高度和粗糙度的2D及3D测量,以及翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测......
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