MicroXAM-800 光学轮廓仪

  针对纳米级到毫米级特征的相位和垂直扫描干涉测量

·        SMART Acquire简化了采集模式并采用已知最佳的程序设置的测量范围输入

·        Z-stitching干涉技术采集模式，可用于单次扫描以及编译多个纵向(z)距离很大的表面

·        XY-stitching可以将大于单个视野的连续样本区域拼接成单次扫描

·        使用脚本简化复杂测量和工作流程分析的创建，实现了测量位置、调平、过滤和参数计算的灵活性

·        利用已知最佳技术，从其他探针和光学轮廓仪转移算法

主要应用

·        台阶高度：纳米级到毫米级的3D台阶高度

·        纹理：3D粗糙度和波纹度

·        形式：3D翘曲和形状

·        边缘滚降：3D边缘轮廓测量 

·        缺陷复检：3D缺陷表面形貌

工业应用

·        大学、研究实验室和研究所

·        半导体和化合物半导体

·        LED：发光二极管

·        电力设备

·        MEMS：微电子机械系统

·        数据存储

·        医疗设备

·        精密表面

·        汽车

·        还有更多：请与我们联系以满足您的要求

MicroXAM-800 光学轮廓仪信息由亿诚恒达科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于MicroXAM-800 光学轮廓仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途