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ES05是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的固定入射角光谱椭偏仪，仪器波长范围370-1000nm。
ES05固定入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如，厚度）和物理参数（如，折射率n、消光系数k），也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。
ES05系列适合于对样品进行实时和非实时的检测。
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