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由中国微米纳米技术学会主办,上海交通大学承办的“中国微米纳米技术学会第十七届学术年会暨第六届国际会议”将于2015年9月12日至9月14日在上海唐朝酒店举办。
会上量拓科技技术总监将做题为“高灵敏度椭偏测量方法在纳米薄膜表征方面的应用”的20分钟报告。本报告介绍光谱椭偏仪的应用,并介绍当前国内外光谱椭偏仪的技术发展和应用现状。
其中重点介绍的光谱椭偏仪目前已应用于集成电路、太阳能电池、平板显示、触摸屏、光电探测器、化学传感器等诸多领域等涉及纳米薄膜研究和工业的多个领域。此外,光谱椭偏仪在偏振器件检测领域也获得了发展和应用,根据位相延迟差片对相位检测的现场检测需求,发展了专用的波片检测仪。
在此次展会上,量拓科技将重点展示具有自主知识产权的代表国际一流技术水平的多系列椭偏仪器,包括:ES系列快速摄谱型光谱椭偏仪、ESS系列波长扫描型光谱椭偏仪、EM系列激光椭偏仪,EX系列教学椭偏仪等,并展示椭偏测量技术在光学镀膜、半导体、LED光电显示等纳米薄膜领域方面的应用。
欢迎新老客户前往我公司展台参观交流(上海唐朝酒店,4号展台)。 链接:http://annual2015.csmnt.org.cn/index.aspx