量拓科技参加“第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会”

发布时间： 2015-10-25 00:00 来源：北京量拓科技有限公司

由中国分析测试协会主办的第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会(简称“BCEIA”)，将于10月27日至30日在北京国家会议中心举行。

在此次展会上，量拓科技将重点展示具有自主知识产权的代表国际一流技术水平的EM系列激光椭偏仪、ES系列光谱椭偏仪、EX系列教学椭偏仪，EPA系列偏振态检测仪，并将展示椭偏测量技术在光学镀膜、半导体、LED光电显示等纳米薄膜领域方面的应用。
欢迎新老客户届时前往我公司展台参观交流（国家会议中心，B区B52展台）。

知识链接：http://www.bceia.cn/ShowInfo.aspx?ListId=9&InfoId=27