应用：

Material Science
Semiconductor—Ingots/Wafer/Packaging/PCBs/LEDs/Sensor/Other MEMS
Aerospace
Automotive
Pharma & Biotech
 

技术参数：

德国KSI提供了zei新的第二代超声波扫描（SAM）, 公司拥有强大的设计应用团队，在超声波领域超过20年的经验。

其设备主要是针对半导体器件 ，芯片，材料内部的失效分析。其可以检查到材料内部的晶格结构，杂质颗粒，

夹杂物，沉淀物， 内部裂纹，分层缺陷，空洞，气泡及空隙等.

主要特点：

非破坏性、无损伤检测内部结构；

可分层扫描、多层扫描；

实施、直观的图像及分析；

缺陷的测量及百分比的计算；

可显示材料内部的三维图像；

对人体是没有伤害的；

可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等）

KSI超声波扫描（SAM）信息由新耕（上海）贸易有限公司为您提供，如您想了解更多关于KSI超声波扫描（SAM）报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途