交流颗粒测试技术，展示最新研究成果

        两年一届的全国颗粒测试学术会议，是由中国颗粒学会颗粒测试专业委员会主办的颗粒测试领域的最高水平的学术交流会。在本次天津会议上，来自国内外颗粒测试专家学者就颗粒测试技术的最新研究成果做了报告。百特产品总监宁辉博士做了“背向动态光散射技术检测高浓度纳米样品”的报告。他详细讲述了动态光散射和电泳光散射测试纳米粒度和Zeta电位的原理，讲述了高浓度纳米样品测试的背向动态光散射技术和采用此项技术的BeNano系列的仪器。宁博士用浅显生动的语言讲述高深的纳米测试的最新技术问题，受到与会专家和代表的高度评价。

        中国颗粒学会颗粒测试专业委员会副主任、本次大会学术委员会副主席董青云全程出席了大会、专委会扩大会、专题报告会等多场活动并主持了特邀报告会。会议期间，董总与全国颗粒测试界的新老朋友共话情谊，探讨了合作推进颗粒测试技术向更高水平迈进的途径。

       本次学术交流会还设立了展览区，展出了近两年来国内外颗粒测试的最新技术成果。丹东百特展出的BeNano 180 Zeta Pro纳米粒度与Zeta电位仪，将90°和173°角纳米粒度测试、ELS（电泳法）和PALS（相位分析法） Zeta电位测试四种技术于一体，既能测纳米粒度又能侧Zeta电位，既适用于低浓度又适用于高浓度，既能测常规量样品，又能测微量样品，既能配固体激光器又能配气体激光器，并且它还能测试高分子及蛋白体系的分子量，是一种配置完整、功能强大、具有国际水平的纳米分析仪器。

        为期两天的第十三届全国颗粒测试学术会议圆满结束了，它将是攀登颗粒测试技术高峰征途上的加油站，为中国颗粒测试技术赶超世界先进水平助力前行。