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超分辨率超分辨率显微镜系统尼康

参考报价: 面议 型号: N-SIM E
品牌: 尼康 产地: 日本
关注度: 暂无 信息完整度:
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?
概述/主要特征
个人用的超分辨率显微镜,提供与N-SIMS相同的高分辨率。

N-SIME是一款流线型、价格合理的超分辨率系统,可提供传统光学显微镜两倍的分辨率。

结合N-SIME和共聚焦显微镜,您可以灵活地在共聚焦图像中选择一个位置,并轻松切换至超分辨率模式,从而获得更多细节。


主要特性

- 分辨率为传统光学显微镜的2倍

- 借助尼康创新的结构化照明显微方法,并与尼康著名的高数值孔径物镜(NA值高达1.49)相结合

- N-SIME几乎可以使传统光学显微镜的空间分辨率提高一倍(达到约115nm*),帮助用户观察微小的胞内结构及其相互作用

*该值是在3D-SIM模式下,通过测量100nm荧光小球的半高全宽而得(488nm激光激发)。


超分辨率图像(3D-SIM)

- 传统的宽场图像YFP标记的B16黑色素瘤细胞的微管

- 物镜:CFIApochromatTIRF100XCOil(NA1.49)

- 图像拍摄速度:大约1.8秒/幅(视频)

- 重构方法:slice重构


图像来源:与日本理化研究所,定量生物学中心,细胞极性调节实验室的YasushiOkada博士合作拍摄


还有更多内容,请扫描图片或查看产品手册。
使用CFISRHPApochromatTIRF100XCOilCFISRPlanApochromatIR60XCWICFISRHPApochromatTIRF100XACOil干镜N-SIME兼容干镜,可以实现超分辨率成像和共聚焦成像,而无需切换镜头。这款低放大倍率、大视野的干镜即使在样品组织的周边也能实现高分辨率观察。
结构化照明显微镜的工作原理是覆盖已知的高空间频率图案,从中得到莫尔条纹并进行分析处理,从而在数学上恢复样品的亚分辨率结构。利用高空间频率激光干涉条纹照射样本内的亚分辨率结构,产生可记录的莫尔条纹,其中包含样品的亚分辨率结构的调制信息。通过处理多个莫尔条纹图案来创建超分辨率图像。捕获结构化照明的多个相位和取向,并且从莫尔条纹信息中提取移位的“超分辨率”信息。使用高级算法处理该系列图像以获得超分辨率图像。
利用高频条纹照明将分辨率提高一倍,而高空间频率信息的捕获受到物镜的数值孔径(NA)的限制。但是通过高频结构化照明条纹照射样品,再与样品中超出经典分辨率极限的未知结构相乘,可以产生可记录的莫尔条纹,其中包含传统分辨率极限两倍的样品信息。当这个“超分辨率”信息与物镜捕获的标准信息相结合时,产生的图像分辨率大约是数值孔径两倍的物镜达到的分辨率。

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