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溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪

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参考报价: 面议 型号: SIRIS-TOFMS
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 58 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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仪器简介:

溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS) 

SIRIS分析步骤:

1、通过能量强大的离子束,解吸附和雾化(分离成原子)样品的一小部分(溅射)。

2、在溅射过程中抑制离子形成。

3、溅射中性粒子的选择性激光电离(共振电离光谱)。

4、离子的飞行时间质谱分析。



技术参数:

溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)技术特点: 

1、激光系统包括Nd:YAG激光泵的二波长可调激光器。

2、标准系统包括可选择微焦点离子枪(50 m光斑尺寸)或液态金属离子枪(100nm光斑尺寸);两种离子枪都配作为一个选项。 x, y, z,  四维样品操纵器,X、Y方向上的精度为亚微米级。

3、16方位轮播样品台。

4、静电分析仪,从根本上消除了由于非选择性表面电离的影响。

5、组合微通道板-闪烁器-光电倍增管,可获得高增益检测与极好的脉冲高度分布。

6、一周的仪器操作培训和SIRIS数据分析培训。



主要特点:

溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer  SIRIS-TOFMS)

是一种新型微区定量高灵敏分析仪器。它集离子溅射、共振电离与飞行时间质港等技术于一体,由于具有高电离效率、高灵敏性、高选择性、适用范围广以及基体效应小等特点,可以实现复杂样品微区微量成份的定量分析。

广泛应用于核物理、地质、矿产、钢铁、半导体材料、环境等许多领域。

我公司有超过25年的SIRIS研究和仪器化的经验,提供完整的SIRIS仪器,目前已经向全世界各个国家的科研机构提供了几十台SIRIS-TOFMS仪器。

 

溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪信息由北京中精仪科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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