纳米颗粒测定仪器IG-1000

  作为粒度仪的专业生产厂商，岛津公司新推出了划时代的单一纳米颗粒测定仪器IG-1000，并在美国伊利诺斯州芝加哥市的迈考密展览中心召开的Pictton 2009（3月8日至3月13日）展会众多产品中脱颖而出，获得“撰稿人奖”铜奖。
      与以往粒度测定仪器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是岛津公司开发的独一无二的纳米粒径测定技术。IG-1000采用介电电泳原理，介电电泳ON时,形成部分的高(低)粒子浓度；介电电泳OFF时, 粒子扩散恢复为原始状态；由介电电泳力使粒子构成衍射光栅，扩散后的浓度降低导致衍射光强度降低，从衍射光强度的时间变化可以得到粒子的扩散系数，进而得到粒子的粒径。 

      IG-1000相关参数如下： 

• 光源：半导体激光（波长785nm） 
• 测定原理：诱导衍射光栅法 
• 测量范围：0.5～200nm 
• 测定体积：250~300uL 
• 测定时间：总计30秒

      与目前采用散射光的动态光散射仪器（DLS）方法相比较, 优势明显。测定范围zei低到0.5nm，在单一纳米颗粒领域可以获得十分良好的信噪比(S/N)，灵敏度也非常高，如图一。
 

图一 C60(OH)n的测定结果 大阪大学　小久保先生提供

      即便样品中含有少量的粗大粒子时对测定也没有影响，分布广的样品可以得到正确的结果，克服了以往DLS产品耐污染性差的缺点。如图二所示。

图二 粒径为50nm的粒子的测定结果，样品中含有1%的1um的粒子

      IG-1000不使用散射光，因此不受物理参数的限制，不要求输入折射率因子(refractive index)作为测量条件。

      列入将来JIS计划的分布范围10倍的氧化硅粒子样品，在IG-1000上能够给出很好的测定效果，中间粒径是76nm，与SEM的结果非常一致；而该样品如果使用DLS测定，中间粒径测定结果为100～150nm。该结果如图三所示，已在2008年十月份的日本粉体工学会，与同志社大学的森先生共同发表。

图三 分布范围10倍的氧化硅粒子测定结果

      IG-1000的方便可靠之处还在于，可利用原始数据（衍射光强度对时间的变化）来进行测定结果的可靠性验证，如图四。

图四 不同尺度粒子的衍射光强度与时间的关系

      岛津公司粒度测定装置种类齐全，单一纳米粒径的新产品IG-1000可以与岛津其他多种型号的激光粒度仪联合使用，实现了从纳米到微米范围的可靠测定。

纳米颗粒测定仪器IG-1000信息由上海东戈姆科贸发展有限公司为您提供，如您想了解更多关于纳米颗粒测定仪器IG-1000报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途