利用双压线性离子阱质谱仪多重解离技术对API杂质谱进行全面分析

　　活性药物成分(API)和成品药的杂质分析是药物研发中不可或缺的一环。杂质的化学结构信息在评估毒性、改进合成途径，以及根据目标成药选择最佳剂型至关重要。

　　为保证药效与消费者的安全，世界各国的监管机构都制定了药物杂质分析的指引，清楚说明基于日服用量、使用时间，和药物靶标的限量标准。

　　LCMS 已经成为最常用的未知杂质分析技术。为了能在大量母药中识别并表征痕量杂质，具有高灵敏度、高扫描速度，并且能进行多级质谱分析(MSn) 的质谱仪必不可少。

　　在本研究中，Sigma-Aldrich 所售的研究级阿德福韦酯(adefovir dipivoxil，ADP) 被用来作为模型化合物进行API杂质分析。ADP 是广泛用于慢性乙肝病毒感染的一种抗病毒处方药。本研究中使用的LCMS 系统由 Thermo Scientific AccelaTM UHPLC以及 Velos ProTM 双压线性离子阱质谱仪构成。碎片信息通过结合应用 CID 与Trap-HCD 解离技术获得。数据处理通过软件Mass FrontierTM 完成。