串联质谱与单四极质谱对复杂基质中残留物检测的比较分析

摘要：

随着检测化合物的增多，残留分析正面临着严峻的挑战。当前，报道的方法多为单极质谱选择离子技术(SIM)。然而对于复杂基质样品中几十种化合物的同时分析，采用选择离子技术(SIM)进行扫描，出现假阳性的几率较大。本研究选取辣椒、洋葱和茴香等复杂基质样品，对其中的添加农药进行了同时分析，并对选择离子技术和二级质谱技术进行了比较，结果表明多级质谱技术可以更为有效地去除基质的干扰，保证痕量物质分析的准确性。

仪器：

TSQ Quantum GC气相色谱-质谱仪(Thermo FisherScientific、美国)，30m×0.25mm ×0.25μm J&W DB-17ms毛细管色谱柱。

结论：

农药多残留分析中面临的难题为复杂基质的有效去除。本文从这一方面对单极质谱的选择离子扫描(SIM)和二级质谱扫描(MS/MS)进行了比较性分析。进一步的从实验结果上证明了二级质谱在进行残留分析上的的优势。二级质谱可有效消除选择离子扫描(SIM)中存在的离子信息少，定性不准的问题，大幅度提高残留分析，特别是复杂基质中的残留物分析的准确性。在另一方面，可有效减少检测方法开发难度，大幅度提升分析结果的准确性。