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领域: | 化工试剂/助剂 | ||
样品: | 高纯双氧水 | 项目: | iCAP PRO系列电感耦合等离子体发射光谱仪 |
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iCAP PRO系列ICPOES测定高纯双氧水中杂质元素 |
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随着半导体技术的高速发展,对超净高纯试剂的要求越来越高。高 纯度双氧水是电子工业中一种十分重要的化学品。主要用于集成电 路生产过程中硅片的清洗和光刻胶的剥离。双氧水中的有机物、金 属杂质和非金属杂质的存在会严重影响双氧水在电子工业的应用。 而杂质离子的存在会对半导体电路性能和蚀刻作用产生不利影响。 电感耦合等离子体发射光谱法具有快速、同时测定各种化学工业品 中痕量元素的能力。本文采用iCAP PRO系列电感耦合等离子体发 射光谱仪测试高纯双氧水中杂质元素,样品无需稀释直接进样,减 少环境和水对测定的影响,避免沾污,采用标准加入法消除基体干 扰,可以直接进样测定高达50%浓度的双氧水,提高了方法的准确 性和可靠性。