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赛默飞色谱与质谱分析
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分析测试百科网 > 赛默飞 > 电感耦合等离子体质谱分析 (ICP-MS) > ICP-MSELEMENT2/XR赛默飞 可检测二氧化硅纳米

ICP-MSELEMENT2/XR赛默飞 可检测二氧化硅纳米

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参考报价: 面议 型号: ELEMENT2/XR
品牌: 赛默飞 产地: 德国
关注度: 54 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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赛默飞ELEMENT 2和 ELEMENT XR 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)ELEMENT2/XR用于测定二氧化硅纳米 颗粒,符合行业标准纳米颗粒材料被越来越广泛的应用于衣食住行等各领域 内,由此带来的潜在的纳米颗粒污染问题,逐渐引起了人们的重 视。适用进行单纳米颗粒样品检测项目。

Thermo ScientificTM ELEMENT 2/XR 是具有出色分析能力的高分辨单接收电感耦合等离子体质谱仪(HR-SC-ICP-MS)。目前,全球已经安装使用的ELEMENT 2/XR已超过600台,服务于环境监测、核科学、地球科学、材料科学等各个领域。

 

    ELEMENT 2/XR主要特点:

·         线性范围宽:线性范围达12个数量级,不同模式自动切换校正;

·         灵敏度高:可使用赛默飞zei新的Jet接口技术,提供无与伦比的灵敏度;

·         具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝,采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。

 

 

 

ICP-MSELEMENT2/XR赛默飞 可检测二氧化硅纳米信息由赛默飞色谱与质谱分析为您提供,如您想了解更多关于ICP-MSELEMENT2/XR赛默飞 可检测二氧化硅纳米报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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